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Microscopie

Plateforme CERTeM R&D

  • Microscope numérique
  • Microscope d'inscpection

​​​​​​​Plateforme CERTeM +

  • Microscope confocal
  • Microscope holographique digital

Plateforme de caractérisation

  • Microscope électronique à balayage – SEM (Scanning Electron Microscopy) / EDX (Energy Dispersive X-ray spectrometry)
  • Microscope électronique double faisceau - FIB (Focused Ion Beam) / STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) / EDX (Energy Dispersive X-ray spectrometry)
  • Microscope à force atomique (AFM) en mode tapping et modes électriques