Microscopie

Plateforme CERTeM R&D

• Microscope numérique
• Microscope d'inscpection

​​​​​​​Plateforme CERTeM +

• Microscope confocal
• Microscope holographique digital

Plateforme de caractérisation

• Microscope électronique à balayage – SEM (Scanning Electron Microscopy) / EDX (Energy Dispersive X-ray spectrometry)
• Microscope électronique double faisceau - FIB (Focused Ion Beam) / STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) / EDX (Energy Dispersive X-ray spectrometry)
• Microscope à force atomique (AFM) en mode tapping et modes électriques