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Caractérisation





 CARACTÉRISATION PHYSIQUE

  • Microscope à force atomique – AFM (Atomic Force Microscopy) en mode tapping et modes électriques 
  • Diffractomètres à rayon X
  • Appareil de mesure effet HALL
  • Spectromètre FTIR (Fourier Transform InfraRed spectroscopy)
  • Mercury probe
  • Mesure 4 pointes – mesure de la résistivité
  • Mesure de la tension superficielle par angle de goutte
  • Granulomètre
  • Profilomètre optique
  • Vibromètre laser à effet Doppler

 CARACTÉRISATION ÉLECTRIQUE
  • Station sous pointe - mesures I(V), C(V), impédance, tests destructifs CVS/LRVS (Linear Ramped Voltage Stress), RF 
  • Testeur ESD (ElectroStatic Discharge)
  • Spectroscopie des niveaux profonds - DLTS  (Deep Level Transient Spectroscopy)
  • Station sous pointe cryogénique

 

  • Mesure 4 pointes

  • Ellipsomètre spectroptique – SEMILAB

  • Profilomètre mécanique – KLA Tencor

  • Spectromètre de masse

 
 
  • Banc d'impédance

  • Vibromètre laser

  • Banc de caractérisation optique et acoustique

  • Nanoscratch testeur

  • Equipement de nanoindentation 

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