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Caractérisation

Plateforme de caractérisation

CARACTÉRISATION PHYSIQUE
  • Diffractomètres à rayon X
  • Appareil de mesure effet HALL
  • Spectromètre FTIR (Fourier Transform InfraRed spectroscopy)
  • Mesure 4 pointes – mesure de la résistivité
  • Granulomètre
  • Vibromètre laser à effet Doppler
CARACTÉRISATION ÉLECTRIQUE
  • Station sous pointe - mesures I(V), C(V), impédance, tests destructifs CVS/LRVS (Linear Ramped Voltage Stress), RF
  • Testeur ESD (ElectroStatic Discharge)
  • Spectroscopie des niveaux profonds - DLTS (Deep Level Transient Spectroscopy)
  • Station sous pointe cryogénique
  • Banc de test sur plaquettes
  • Analyseur de semi-conducteur capacimètre haute tension
  • Système de caractérisation TLP (Transmission Line Pulse)

Plateforme CERTeM +

  • Plateforme de tests multi-voies MEMS acoustiques haute-fréquence
  • Plateforme de polarisation et de caractérisation de matériaux piézoélectriques
  • Banc d'impédance
  • Vibromètre laser hautes fréquences
  • Banc de caractérisation optique et acoustique
  • Nanoscratch testeur
  • Equipement de nanoindentation
  • Microscope confocal
  • Microscope holographique digital

Plateforme CERTeM R&D

  • Ellipsomètre spectroscopique
  • Profilomètre mécanique de table
  • Spectromètre de masse
  • Microscope numérique
  • Microscope d'inspection